紅外成像儀和紫外成像儀的區別？

紅外熱像儀和紫外成像儀的區別

紅外熱像儀是對溫度進(jìn)行的一種監測。鏡頭捕獲來(lái)自任何物體的紅外能量，并通過(guò)數字處理可視化溫度狀態(tài)。由于各種物體在產(chǎn)生熱量的同時(shí)發(fā)射紅外光，因此通過(guò)圖像處理紅外能量，可以可視化溫差。這種可視化的紅外圖像稱(chēng)為紅外熱成像。

紫外成像儀是檢測紫外輻射，電暈放電是一種局部化的放電現象， 當帶電體的局部電壓應力超過(guò)臨界值時(shí)，會(huì )使空氣游離而產(chǎn)生電暈放電現象。特別是高壓電力設備，其常因設計、制造、安裝及維護工作不良產(chǎn)生電暈、閃絡(luò )或電弧。在放電過(guò)程中，空氣中的電子不斷獲得和釋放能量，而當電子釋放能量（即放電），便會(huì )放出紫外線(xiàn)。

紅外熱像儀（IR）：檢測光譜范圍在8-14微米，檢測來(lái)自電氣故障引起的熱輻射，電流炙熱性型的缺陷。例如：電阻型發(fā)熱缺陷，壓接接觸不好，內部缺陷，破損等。

紫外成像儀(UV)：檢測光譜方位在240-280nm，檢測電壓強度異常引起的紫外輻射，電暈放電型缺陷。例如：污穢、破損、松弛、jian端、安裝不當、缺失、零值低值等。

目前，可用于診斷目的的放電過(guò)程的各種方法中，光學(xué)方法的靈敏度、分辨率和抗干擾能力最好。即采用高靈敏度的紫外線(xiàn)輻射接受器，記錄電暈和表面放電過(guò)程中輻射的紫外線(xiàn)，再加以處理、分析達到評價(jià)設備狀況的目的。電暈放電過(guò)程引起微小的熱量，通常紅外檢測不能發(fā)現。紅外檢測通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點(diǎn)。紫外成像儀可以看到的現象往往紅外成像儀不能看到，而紅外成像儀可以看到的現象往往紫外成像儀不能看到。因此 UV 檢測和紅外成像是一種互補性而非沖突性技術(shù)。